透射仪

该脚本计算多层薄膜堆栈的反射和透射系数，使用给定的入射角、偏振、波长、每层复折射率和厚度。程序假定介质的入射和出射是无损的，但薄膜层可能存在损耗。所有层均假定为非磁性。对于磁性介质，需参考更广泛的理论处理。基于K. Pascoe的技术报告《通过分层有损介质的反射率和透射率：A用户友好的方法》（2001年）。

使用单片机开发的一款RCL测试仪

逻辑分析仪是一款先进的数字信号测试工具，广泛应用于复杂电子系统的设计、调试和故障排查。它能够捕获并显示数字系统的时序信息，帮助工程师深入理解系统行为并解决潜在问题。本指南将详细介绍如何安装KingstVIS逻辑分析仪的软件，并有效使用设备。 一、软件安装 1. 下载安装软件：从官方或可信赖的资源网站下载最新版本的KingstVIS软件，适合你的操作系统（Windows、MacOS或Linux）。 2. 验证文件完整性：下载后，检查文件MD5或SHA校验值，确保安装文件未被篡改。 3. 运行安装程序：双击.exe文件启动安装向导，按照提示选择安装路径并同意许可协议。 4. 安装依赖项：如果安装过程中需要，安装必要的依赖项如.NET Framework。 5. 完成安装：安装完成后，桌面通常会出现快捷方式，点击启动KingstVIS软件。 二、连接设备 1. 硬件连接：通过USB接口将逻辑分析仪连接到电脑，确保设备已开启并成功识别。 2. 驱动安装：如果系统未自动安装驱动程序，根据附带的驱动安装指南手动安装。 3. 软件识别：启动KingstVIS软件，程序应自动识别连接的逻辑分析仪。如未能识别，检查USB连接并重启软件。 三、设置与配置 1. 通道设置：在软件界面配置每个通道的输入电平和触发条件，根据测试需求调整。 2. 采样率设置：选择合适的采样率以确保数据捕获效率和信息完整性。 3. 触发模式：根据测试要求选择适当的触发模式，如边沿触发或脉宽触发。 四、数据捕获与分析 1. 开始捕获数据：配置完参数后，点击“开始”按钮实时捕获信号波形。 2. 冻结和回放：捕获过程中，可冻结数据并回放，帮助进一步分析和故障排查。

这个程序利用多级散射理论，计算了随机分布的二维柱体在反射和透射方面的特性。

MATLAB仿真QEM_光谱仪用于模拟和设计SEM光谱仪的代码。包括Lorentz文件，用于射线追踪各种组件，包括EELS光谱仪预处理镜片系统导流板枪。初始化电子束轨迹的MATLAB文件用于解析表达式（如偏斜和透镜变形），以及从Lorentz提取参数和曲线图，计算系数。

混合噪声Matlab代码 StoBifAn / TPA：- 随机分叉分析仪- 张量结构参数分析 主要功能：- 组装高维随机生化系统的化学主方程（CME）和化学Fokker-Planck方程（CFPE）。- 求解CME/CFPE，获得稳态分布。- 研究模型参数的可识别性和估计参数值。- 计算随机反应系统的分叉结构。- 耦合内部和外部噪声，进行鲁棒性分析。- 参数平稳分布的灵敏度分析。 更多详细信息请参阅：Liao et al., arXiv:1406.7825 使用须知：- 本代码仍在更新中。- 如有疑问，请联系作者。 许可：- MIT许可证

RohdeSchwarzUPL音频分析仪MATLAB驱动程序开发。Rohde&Schwarz公司的UPL音频分析仪MATLAB仪器驱动程序开发正在进行中。

这篇资源分享了频谱分析仪的制作和使用方法，帮助论坛成员更好地理解其工作原理。

LT DT 635nm 经纬仪操作步骤 仪器架设: 将经纬仪稳固地架设在三脚架上，确保仪器中心与测站点在同一铅垂线上。 水平度盘调平: 使用脚螺旋调整水平度盘，使气泡位于水准器中央。 目标瞄准: 旋转望远镜，使用粗瞄准器对准目标。 焦距调整: 旋转调焦旋钮，直至目标清晰可见。 水平角测量: 读取水平度盘读数，记录数据。 竖直角测量: 读取竖直度盘读数，记录数据。 数据记录: 将测量的水平角和竖直角数据记录在表格中。 重复测量: 重复上述步骤进行多次测量，取平均值以提高精度。 仪器校正: 定期对经纬仪进行校正，确保测量精度。 数据处理: 使用专业软件对测量数据进行处理和分析。

改进的Arduino串行绘图仪BetterSerialPlotter是arduino串行绘图仪的升级替代品。您可以以与串行绘图仪应用程序完全相同的方式使用代码，但可享有更多扩展功能。 Better Serial绘图仪的一些优点包括：支持多种波特率和波特率选择、变量名称和颜色的更改、自动滚动选项以及多个y轴和x vs y图的显示。此外，它还支持输出保存到文件和自动缩放图功能。您的arduino程序应该保持不变，只需在setup()函数中使用Serial.begin(BAUD_RATE)打开串行通信通道，并在loop()函数中每次迭代时输出变量，并在结束时输出换行符。