IEEE 1149.1标准,全称为“IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture”,是由电气与电子工程师协会(IEEE)制定的标准,定义一种用于测试、维护和支持印刷电路板组装的集成电路内部电路的设计。该标准于1990年首次发布,并在2001年进行了修订。标准详细解释了测试访问端口(TAP)的定义及其功能,TAP允许测试设备与集成电路进行通信,支持多种操作模式。此外,标准还详细介绍了边界扫描(Boundary-Scan)注册表的作用和特点,边界扫描通过链式结构提高PCB互连测试覆盖率,并简化故障定位过程。标准还引入了边界扫描描述语言(BSDL),用于描述集成电路中边界扫描寄存器的特性,提升了组件间的兼容性和可扩展性。